首頁
公司簡介
產品中心
應用場景
技術團隊
學習中心
新聞中心
聯繫我們
SiC-300A
UniDron-Semi
Inline- Apcrs
UniDron EFEM-Semi
顯微共軛焦拉曼+PL檢測設備
顯微共軛焦拉曼檢測設備
光譜儀在高分子材料領域應用
檢測微觀色度差异
該技術通過對共軛焦光學系統的深度優化，巧妙地突破了傳統光學的衍射
此設備採用人工裝卸料方式，能夠精准檢測SIC晶錠或Wafer的深
光譜檢測是通過被測物質在特定波長處或一定波長範圍內的光吸收度，對
上海市寶山區長建路199號9幢
聯繫電話
